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走出驗證危機：提高暫存器傳輸級能力（作者 Harry Foster 💡）
我們面臨驗證危機，需要在設計方法上進行全面和哲學上的改變，並以預防錯誤為基礎。實施此更改的第一步是通過包含以意圖為中心的洞察力的設計過程來降低錯誤數量。這將對下游工藝產生正向的影響，從而降低生產成本。
1997 年，Sematech 警告說，IC 製造生產率的增長正以 40% 的複合年增長率增長，而 IC 設計生產率的增長僅以 20% 的複合年增長率增長，從而在行業中敲響了警鐘。
1999 年國際半導體技術路線圖報告重申了這一擔憂。儘管對晶片產能和設計能力之間的差距發出了這些警告，但該行業避免了這場危機。為什麼？
有兩個主要因素阻止了設計生產力差距：(1) 設計自動化的持續改進和 (2) 矽智財經濟的出現，推動了高效的設計重用策略。
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